#연구

산업 비전 검사를 위한 전이 학습 (Transfer Learning for Industrial Visual Inspection)

전이 학습 이란 2012년 Alex Krizhevsky가 AlexNet11이라는 Convolutional neural network(CNN)으로 ImageNet 데이터 세트에서 기존 비전 알고리즘을 모두 압도하는 성능을 발표한 이후, CNN은 비전 검사에서 매우 광범위하게 적용되고 있습니다. 그러나 기존 비전 알고리즘과 비교했을 때 CNN의 치명적인 단점은 매우 많은 데이터가 필요하다는 것입니다. 이러한 문제로 초창기 CNN은 주로 ImageNet과 같이 매우 많은 이미지들로 구성된 데이터 세트에만 […]