룰베이스 검사의 과검을 줄인 PCB 외관검사 — SAIGE VISION 구축 사례

룰베이스 검사의 과검을 줄인 PCB 외관검사 — SAIGE VISION 구축 사례

개요

반도체 기판(PCB) 제조 공정의 룰베이스 검사 과검 문제 해결을 위해 SAIGE의 AI 기반 외관검사 솔루션 도입 사례입니다.

Challenge

💡 PCB 외관검사, 과검 관리가 어려운 이유

  • 룰베이스 검사기가 결함 후보를 과다 검출, 실제 불량 대비 과검 비중 높음
  • 과검 재확인을 위한 육안검사 인력 부담 가중
  • SR 잉크·표면 반사 등 정상 패턴 변형이 많아 실제 결함과 노이즈 구분 난이도 높음
  • 다품종·신규 모델 전개가 잦아 검사 기준 유지 어려움

Solution

기존 검사장비 연동 + AI 필터 중심 구성

  • SAIGE VISION 기반 AI 필터로 룰베이스 검출 결과를 OK·NG·재검(Recheck)으로 분류
  • 재확인이 필요한 항목만 육안검사로 전달하는 검사 흐름 재정비
  • SAIGE VISION Enterprise 기반 검사 결과·수율·Lot 통계의 통합 관리
  • 현장 데이터 수집·재학습·배포를 잇는 MLOps 운영 체계 구성
  • 기존 룰베이스 검사장비 환경 그대로 연동

Impact

PCB 라인 검사 운영에서의 변화

  • 과검 재확인 대상 축소, 육안검사 부담 경감
  • 실제 불량 중심의 검사 흐름으로 재검 공수 절감
  • 검사 데이터·모델 이력의 중앙 관리 체계 확보
  • 현장 데이터 기반 재학습으로 과검률 지속 개선 구조 마련

적용 산업: 반도체 기판(PCB) 제조

※ 본 사례는 실제 도입 사례를 바탕으로 재구성하였으며, 고객사 정보 보호를 위해 세부 정보는 비공개합니다.

과검을 줄이고 검사 데이터를 통합 관리하는,
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